SEM 掃描電鏡
來源:admin日期:2017-08-04 瀏覽:0
掃描電鏡的電子束不穿過樣品,僅在樣品表面掃描激發(fā)出二次電子。獲得圖像為立體形象,反映標本的表面結(jié)構(gòu)。
測試項目
1、材料表面形貌分析,微區(qū)形貌觀察
2、各種材料形狀、大小、表面、斷面、粒徑分布分析
3、各種薄膜樣品表面形貌觀察、薄膜粗糙度及膜厚分析
掃描電子顯微鏡圖片
1.菌類(形貌形態(tài)) | |
2.葉片(表面和斷面形貌) | |
3.粉末(形貌) | |
4.淀粉顆粒(形貌) | |
5.水藻(形狀形貌) | |
6.高分子材料(三維空間結(jié)構(gòu)) |
- 上一篇:沒有了
- 下一篇:XRD-物相分析
您有產(chǎn)品需求?即刻聯(lián)系我們吧!
聯(lián)系我們